HAST 試驗(yàn)箱 壓力老化箱 HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能

HAST高溫高濕高壓老化箱 HAST試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的密封性和老化性能，廣泛用于IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)。

HAST壽命試驗(yàn)箱 高加速溫度和濕度壓力 HAST 壽命試驗(yàn)箱，又稱高壓加速老化試驗(yàn)箱，主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性。在設(shè)定的溫度、相對(duì)濕度和壓力條件下，將待測(cè)樣品暴露于非冷凝的高溫高濕環(huán)境中，以加速其老化過(guò)程。通過(guò)準(zhǔn)確控制試驗(yàn)箱內(nèi)的環(huán)境參數(shù)，可以在短時(shí)間內(nèi)模擬出產(chǎn)品可能經(jīng)歷的數(shù)十年甚至更長(zhǎng)時(shí)間的自然老化過(guò)程。

PCT 高壓加速老化試驗(yàn)箱 氣壓濕度款 具有模擬大氣環(huán)境中溫度變化規(guī)律。主要針對(duì)于電工，電子產(chǎn)品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環(huán)境下運(yùn)輸，使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)，改進(jìn)，鑒定及檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)。

高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) HT-HAST-80L 該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)， 主要用于對(duì) 電工、電子產(chǎn)品，元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理 以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求，以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、 檢定及出廠檢驗(yàn)使用。密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速